ウェハ規格例

ウェハ規格例

wafer_li04
〔注-1〕 抵抗率の分別が可能です
〔注-2〕 厚みの分別も可能です
〔注-3〕 Warp基準面はBest-fitを採用しています
〔注-4〕  200mmΦの両面研磨品も再生実績があります
〔注-5〕 結晶欠陥は除きます
〔注-6〕 VPD-ICP-MS、VPD-TXRFでの測定実績です